Échantillon de diffraction des rayons X.
christine_lewis83
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Publié:2014-11-22 20:42:03
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Resumé
Ce est un modèle de base utilisé pour examiner des échantillons imprimés sous diffraction des rayons X. Il est conçu pour s'adapter au porte-échantillons d'un diffractomètre de poudre Scintag XDS-2000 sans aucune préparation d'échantillon. Les coins sont arrondis pour faciliter l'impression.
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CC BY-SA