X-Ray 회전 디프라크션 표본 조각
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Publicado:2026-03-15 13:21:57
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이것은 X-ray 회전광선 분석기로 인쇄된 표본을 검사하는 데 사용되는 기본 모형입니다. 이는 표본 준비 없이 스신타그 XDS-2000 파우더 분석기의 표본 홀더에 적합하도록 설계되었습니다. 모서리는 인쇄를 편하게 할 수 있도록 라운드되어 있습니다.
분야: 엔지니어링Fuente del modelo
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CC-BY-SA