Sick STR1 传感器测试支架
Garcia3d
Encuentre similares con IA
Perfil de impresión(0)
Archivo de modelo(0)
0
0
0
Publicado:2026-07-04 07:23:22
0
0
000Descripción
Etiquetas
Fuente del modelo
Comentarios(0)
一个支架，用于测试传感器是否损坏。或者在门打开的情况下覆盖系统以进行测试
Etiquetas
Fuente del modelo
Enlace original: Ver detalles
CC BY-SA